Bu sayfayı paylaşın

X-TRACT

METAL UYGULAMALARINDA EN YÜKSEK KALİTE İKİNCİL MALZEME

Son model sensör teknolojisini ayrıcalıklı yazılımla birleştiren TOMRA Sorting'in geliştirilmiş X-TRACT'ı ile performansın zirvesine ulaşın. Yüksek çözünürlük, X-Işını (XRT) ile birleştiğinde: çok-yoğunluklu-kanal özellikleri, çok çeşitli metal uygulamalarında en karmaşık malzeme karışımlarıda bile ayırma hassasiyetini artırır. TOMRA'nın özel yazılım geliştirmesi ile birleştiğinde, sahada kanıtlanmış Çift İşleme Teknolojimiz, X-TRACT'ın en yüksek kapasitenin, güvenilir en yüksek kalitede verim ile etkili bir şekilde sınıflandırılmasını sağladığı anlamına gelir. Yeni ödüllü ve sezgisel ACT kullanıcı arayüzü ile donatılması sayesinde, X-TRACT operatörleri, kritik ayıklama bilgilerini ve gerçek zamanlı işlem verilerini bir bakışta kolayca görebilir.

Önemli Müşteri avantajları

  • Çok Yoğunluklu Kanallar: Karışık metaller ve küçük tane büyüklükleriyle bile daha hassas sonuçlar için
  • ACT kullanıcı arayüzü: Daha fazla kontrol için - uzaktan bile
  • Çift İşleme Teknolojisi: Yüksek kapasitede en iyi kalite verim için
  • Uygulama Paketleri: Özelleştirilmiş mekanik tasarım için

Temel Özellikler

XRF Teknolojisi

X-ışını floresan (XRF), partiküllerde bulunan elementlerin algılanabilmesini sağlar. Materyal, düşük enerjili X-ışını radyasyonu ile harekete geçirilir ve elemente özel floresan serbest bırakılır. Bu floresan, enerji dağıtan bir X-ışını sensörü ile ölçülebilir. Veriler işlenerek, sonuçta elementlerin ve konsantrasyonlarının varlığına ilişkin bilgiler alınır. Bu bilgiler SUPPIXX® kullanan bir EM sensöründen gelen ek verilerle birleştirilerek, cismin pozisyonu ve boyutu tespit edilir – ve bir valf seti onu hassas bir şekilde fırlatır.

XRT Teknolojisi

X-TRACT [XRT], geniş bant ışınım yaratan elektrikli bir X-ışını kaynağı kullanır. Bu radyasyon, ayrı tutulan materyale nüfuz eder ve azaltıldığında, farklı spektral duyarlılıklara sahip, birbirinden bağımsız iki sensör hattı kullanan DUOLINE® sensörlü bir X-ışını kameraya ulaşır. Bu kamera tarafından sağlanan veriler TOMRA Sorting'in yüksek hızlı x-ışını işleme sistemi ile sınıflandırılır. Bu yöntemle, genellikle materyal kalınlığı dikkate alınmadan gerçekleştirilen bir süreçte, materyallerin atomik yoğunluğu tanımlanabilir.