Bu sayfayı paylaşın

X-TRACT

En ileri teknolojiyi içeren X-ışını sensörleri, X-TRACT'a özel ayıklama görevleri için güç sağlarlar.

  X-ışını yayını (XRT) ile DUOLINE®  teknolojisini birleştiren TOMRA's X-TRACT, -girdinin materyal yoğunluğu ne olursa olsun- ikincil kaynakların eşsiz şekilde tanınmasını sağlar. TOMRA'nın özel, yüksek hızlı X-ışını işleme teknolojisi sayesinde müşteriler, olağanüstü seviyedeki çözünürlük ten -en değişken metal karışımlarında ve en küçük tanecik boyutlarında bile- yararlanırlar. Sonuç: yüksek randıman ve saflık düzeyi yüksek kâr getirir.

Temel Özellikler

XRF Teknolojisi

X-ışını floresan (XRF), partiküllerde bulunan elementlerin algılanabilmesini sağlar. Materyal, düşük enerjili X-ışını radyasyonu ile harekete geçirilir ve elemente özel floresan serbest bırakılır. Bu floresan, enerji dağıtan bir X-ışını sensörü ile ölçülebilir. Veriler işlenerek, sonuçta elementlerin ve konsantrasyonlarının varlığına ilişkin bilgiler alınır. Bu bilgiler SUPPIXX® kullanan bir EM sensöründen gelen ek verilerle birleştirilerek, cismin pozisyonu ve boyutu tespit edilir – ve bir valf seti onu hassas bir şekilde fırlatır.

XRT Teknolojisi

X-TRACT [XRT], geniş bant ışınım yaratan elektrikli bir X-ışını kaynağı kullanır. Bu radyasyon, ayrı tutulan materyale nüfuz eder ve azaltıldığında, farklı spektral duyarlılıklara sahip, birbirinden bağımsız iki sensör hattı kullanan DUOLINE® sensörlü bir X-ışını kameraya ulaşır. Bu kamera tarafından sağlanan veriler TOMRA Sorting'in yüksek hızlı x-ışını işleme sistemi ile sınıflandırılır. Bu yöntemle, genellikle materyal kalınlığı dikkate alınmadan gerçekleştirilen bir süreçte, materyallerin atomik yoğunluğu tanımlanabilir.