Поделиться

X-TRACT

Новейшие сенсоры рентгеновского излучения позволяют X-TRACT выполнять специальные задачи по сортировке.

При помощи технологии рентгеновского просвечивания (XRT), X-TRACT распознает содержимое в сортируемом материале вне зависимости от цвета и степени загрязнения. Благодаря технологии рентгеновской сортировки, X-TRACT может разделять вещества на основании их атомной плотности и, таким образом, может создавать концентрированные фракции по различным типам материалов. Рентгеновская флуоресценция (XRF) анализирует химический состав материалов, например, при сортировке медных шариков от железного лома.

ОБЗОР

  • TOMRA Sorting предлагает множество конфигураций для различных задач и условий сортировки.
  • X-TRACT доступен в вариантах с рентгеновским просвечиванием (XRT) и рентгеновской флуоресценцией (XRF).
  • Оснащен DUOLINE® и SUPPIXX®

Для получении более подробной информации, свяжитесь с нашей командой. 

Основные характеристики

Технология XRF

Рентгеновская флуоресценция (XRF) позволяет обнаруживать присутствие тех или иных веществ в частицах материала. Материал, подвергнутый воздействию низкоуровневой рентгеновской радиации, испускает характерную для конкретного элемента флуоресценцию. Данную флуоресценцию можно измерить дисперсноэнергетическим сенсором рентгеновского излучения. После обработки данных результат выводится в виде информации о присутствии веществ и их концентрации. Информация комбинируется с дополнительными данными от сенсора электромагнитного излучения и камеры SUPPIXX® способной определять положение и размер объекта, после чего тот аккуратно выталкивается при помощи одного из установленных клапанов.

Технология XRT

X-TRACT [XRT] использует электрический источник рентгеновского излучения для создания широкополосного излучения. Излучение проникает в разделяемый материал и, затухая, попадает на рентгеновскую камеру с датчиком DUOLINE®, использующим две независимые линии сенсоров с различающейся спектральной чувствительностью. Данные, поступающие с этой камеры, классифицируются с использованием высокоскоростной обработки рентгеновских данных TOMRA Sorting. Таким образом можно установить атомную плотность материалов, причем их толщина практически не является фактором, влияющим на процесс